В России нашли способ проверить качество фотонных микрочипов, не ломая их

Российские специалисты разработали способ, который позволяет бесконтактно оценить качество чипов для радиофотоники. Исследователи из Санкт-Петербургского государственного электротехнического университета «ЛЭТИ» разработали неразрушающий, быстрый и точный метод контроля качества фотонных интегральных схем.